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HT-E8-SPRX射線熒光光譜儀

X射線熒光光譜儀ROSH檢測儀 HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF），光路系統、散熱系統、控制系統以及軟件算法，使HeLeeX E8-SPR在測試精密度、準確度和操作便捷性上超越國內外同類產品，其的性能被廣泛的應用于RoHS/HF檢測、重金屬檢測、合金成分分析、貴金屬檢測、鍍層測試、土壤成分分析、礦石成分分析等領域，并得到第三方檢測機構、上市企業以及其他中小型企業用戶的。

一、應用領域：

測試性能：

X射線熒光光譜儀ROSH檢測儀 ? RoHS /ELV無鹵指令（Pb、Cd、Hg、Cr、Br、Cl），檢測范圍：2ppm-99.99%（鹵素檢測范圍：30ppm-90%）測試精度：測試標準樣品EC681M中的鉛（69.7ppm）7次絕對標準偏差小于1.5。;

? 鍍層分析：各種基材鍍Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn、Cr等檢測范 圍：0.001um-30um，：檢測最外層鍍層厚度為1um左右的鍍層7次相對標準偏差小于5%；

? 合金分析：鋼鐵、銅類等成分分析，檢測元素范圍：Na-U，檢測濃度范圍：50ppm-99.99%。7次測試重復性：相對標準偏差小于0.1%（含量5%左右）

二、儀器特點：

儀器外圍配置

? HeLeeX E8-SPR采用模塊化分體式X射線準直器技術，根據用戶需求，可快速配置Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3mm、Φ5mm、Φ7mm中的任意四種準直器。滿足樣品中不同大小點測試需求。

1、 儀器特